Ультразвуковой дефектоскоп Olympus OmniScan X3

Новейшее решение для ультразвукового неразрушающего контроля от компании Olypmus - OmniScan X3.

Улучшенная технология ФР

Инновации – главный фактор высокой эффективности

• В 2 раза быстрее дефектоскопа OmniScan™ MX2 (частота повторения импульсов)
• Одно меню TOFD (дифракционно-временной метод) для ускоренной работы
• Улучшенная и быстрая калибровка ФР — Никакого стресса!
• Диапазон высоких амплитуд 800% снижает необходимость повторного сканирования
• Встроенная поддержка преобразователей Dual Linear Array™ и Dual Matrix Array™ ускоряет процесс настройки

Поддержка существующих файлов и настроек:

• Полная поддержка существующих ПЭП и сканеров
• Полная поддержка файлов данных MX2/SX для сравнения показаний и отслеживания изменений во времени
• Полная поддержка настроек MX/MX2/SX гарантируют соответствие процедур требованиям контроля

Инновационный метод TFM

TFM-изображения с превосходной детализацией

Комбинация таких характеристик OmniScan™ X3, как: огибающая TFM (метод общей фокусировки) в режиме реального времени, разрешающая способность сетки до 1 024 × 1 024 и яркий цветной дисплей – обеспечивают непревзойденное качество TFM-изображений. Благодаря высокому разрешению обеспечивается четкая визуализация дефектов.

Обзор области сканирования

Карта акустического воздействия (AIM) предоставляет мгновенную визуальную модель чувствительности, с учетом выбранного режима, настроек и отражателя.
Этот инструмент позволяет визуализировать воздействие группы волн (в режиме TFM), определить зону наименьшей чувствительности и скорректировать, при необходимости, схему сканирования.